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4001-088-030高温反偏老化试验系统(HTGB/HTRB/H3TRB)适用范围:适用于F型、G型、B型、TO220、TO3P、TO92、片式、轴向、径向等各种封装分立器件进行高温反偏试验:如各种二极管、三极管、场效应管、可控硅、桥堆等。
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容量
试验电源
驱动检测板
老化板
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